Penentuan Ukuran Butiran Kulit Pisang Hasil Variasi Suhu Menggunakan Analisa XRD Melalui Persamaan Scherrer

Abstract

Telah dilakukan penelitian  dengan metode variasi suhu terhadap kulit pisang raja dengan menggunakan XRD dan persamaan Schrrer. Tujuan riset ini untuk mengetahui pengaruh suhu pemanasan terhadap ukuran butir kulit pisang raja. Analisis XRD menunjukkan bahwa peningkatan suhu pemanasan menyebabkan pelebaran puncak difraksi. Hal ini menyebabkan ukuran butir mengalami perubahaan. Ukuran butir yang diperoleh dengan persamaan Schrrer untuk tanpa pemanasan dan dengan pemanasan pada suhu 100˚C, 150˚C, 200˚C, 250˚C, dan 300˚C berturut-turut adalah 0,66 x 10^-4 µm, 3,11 x 10^-4 µm, 0,80 x 10^-4 µm, 0,74 x 10^-4 µm, 1,32 x 10^-4 µm, dan 1,60 x 10^-4 µm.

Kata Kunci: Variasi Suhu, XRD, Ukuran Butiran